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扫描电子显微镜(简称扫描电镜,SEM)是继透射电镜之后发展起来的一种电镜。与透射电镜的成像方式不同,扫描电镜是用聚焦电子束在样品表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒,成像信号可以是二次电子(被入射电子轰击出来的样品核外电子)、背散射电子(被固体样品中原子反射回来的一部分入射电子)或吸收电子。其中二次电子为主要的成像信号。现以二次电子像的成像过程来说明扫描电镜的工作原理。由电子枪发射的能量为5-35KeV的电子,以其交叉斑作为电子源,经二级聚光镜及物镜的缩小形成
具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束,在扫描线圈驱动下,于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用,产生二次电子发射(以及其他物理信号),二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号,经视频放大后输入到显像管栅极,调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度,得到反映试样表面形貌的二次电子像。
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压敏电阻的物理特性:
ZnO 压敏电阻的非线性是一种晶粒边界现象,即在相 邻晶粒耗尽层中存在多数电荷载流子(电子)的势垒。认 为肖特基势垒像 ZnO 微结构中晶粒边界势垒。晶粒边界 上的负表面电荷(电子捕获)是由晶界面两侧晶粒的耗尽 层的正电荷来补偿的。热电子发射和隧道效应是主要的传 输机制。 近发展的压敏电阻势垒的晶粒边界缺陷模型在改进 稳电压应力下,压敏电阻的稳定性上取得了很大进展。
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